A Nikon X.Tract szoftvere a CT eljáráshoz hasonló vizsgálatot tesz lehetővé rendkívül összetett, többrétegű áramköri lapok esetében.
Az X.Tract CT-minőségű vizsgálati eredményeket biztosít az összetett, többrétegű elektronikai szerkezetek vizsgálatáról a gyártmány feldarabolása nélkül. Gyors és felhasználóbarát eljárással virtuális mikrometszetek készíthetők az elemzés tárgyát képező régió bármely irányában. Az X.Tract feltárja a rétegelt alkatrészek 2D-s röntgenfelvételein elfedett hibákat.
Az új X.Tract eszköz teljesen automatizált felvételt, nagy teljesítményű képfeldolgozást és részletes riportkészítést biztosít. Az X.Tract segítségével a felhasználók jobb betekintést nyerhetnek az olyan összetett szerkezetekbe, mint a Package on Package (PoP) vagy a többrétegű alaplapok, ami csökkenti a hibás eredmények arányát és növeli a termelékenységet.
Többrétegű tárgyak esetében az X.Tract olyan hibákat is képes feltárni, amelyeket hagyományos 2D röntgenképeken nem lennénk képesek. A rendszernek hála kis és nagyméretű NyÁK-ok is könnyedén vizsgálhatók. Az X.Tract elérhető az XT V 160-as röntgengéphez.